集成電路測試儀概念及分類

計量校準集成電路測試儀是對集成電路進行測試的專用儀器設(shè)備。

集成電路測試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。

集成電路測試技術(shù)是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一，因此，集成電路測試儀作為一個測試門類受到很多國家的高度重視。

40年來，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測試儀也從初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、計量校準大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，超大規(guī)模集成電路測試儀進入全盛時期。

目前各大芯片的生產(chǎn)廠商一般都擁有自己的芯片測試系統(tǒng)，一般都在芯片出廠前檢測出芯片的基本性能參數(shù)。

但是作為一般企業(yè)運用集成電路芯片進行設(shè)計電路或高校實驗室用芯片，并不關(guān)心集成芯片內(nèi)部的構(gòu)造，關(guān)心的就是所用芯片的邏輯是否正確和如何得知未知芯片的型號。

而市場上工業(yè)運用的集成芯片檢測不僅價格高，而且并不實用。

概述硬件電路 包括單片機模塊、鍵盤輸入模塊、芯片檢測模塊計量校準,顯示模塊,單片機模塊主要用來處理芯片檢測模塊采集來的數(shù)據(jù)，通過與真值表的比較判斷處芯片的好壞與型號。

鍵盤模塊用于輸入被測芯片的型號。

芯片檢測模塊用于被測芯片接收和發(fā)送信號。

顯示模塊用于顯示被測芯片的好壞、邏輯符號、邏輯表達式和芯片型號。

按集成電路分類：數(shù)字集成電路測試儀和模擬集成電路測試儀

按功能分類：集成電路功能測試儀和集成電路參數(shù)測試儀

按形式分類：便攜式集成電路測試儀和臺式集成電路測試儀