我國集成電路測試儀發展情況及未來發展方向

計量校準我國在70年代初就開始了集成電路測試儀的研制工作，80年代后期國產集成電路測試儀的水平，特別是自行設計能力有較大提高，測試理論、測試方法、測試系統的研究試驗工作受到國家重視，初步形成一支科研、設計、制造的技術隊伍[2] 。

國內研究或制造集成電路測試儀的研究所與工廠主要有中國科學院計算技術研究所、半導體所、北京自動測試技術研究所、光華無線電儀器廠（767廠）、北京無線電儀器廠、北京科力公司等。

1986年科學院計算技術研究所研制成功ICT-2LSI/VISI綜合測試系統，功能測試速率10MHz/20MHz，通道數48（128），OTA(系統總定時精度)±2ns。1987年北京自動測試技術研究所研制成功BC3170存儲器測試系統，功能測試速率20MHz，通道數32個。

同期光華無線電儀器廠推出GH3123型集成電路自動測試儀，北京自動測試技術研究所BC3110X型集成電路測試儀研制成功。

這兩種采用CAT技術的中小規模集成電路測試系統，標志著國產中小規模集成電路測試儀的技術水平進入新的發展時期和走向實用階段。

繼而北京科力公司研制和生產測試速率12.5MHz、64通道大規模數字集成電路測試系統。計量校準此后不久，光華無線電儀器廠又研制成功功能測試速率為10MHz的16M位RAM存儲器測試儀，大規模測試系統獲得長足的發展。

1996年，由北京自動測試技術研究所、國營光華無線電儀器廠、中科院計算技術研究所聯合研制成功3190數字集成電路大型測試系統，測試速率40MHz，通道數64個，定時精度±750ps，達到八十年代中后期國際先進水平，國產集成電路測試儀上了一個新臺階。

國產集成電路測試儀雖有一定的發展，但與國際水平仍存在較大差距。市場上各種型號國產測試儀，中小規模占80%，只有少數采用計算機輔助測試。

大規模IC測試系統ICT-2、BC3170、3190類大系統，由于價格、可靠性、實用性等因素導致沒有實用化。

因此，大規模IC測試系統主要依靠進口解決國內的科研、生產與應用測試。

隨著數字技術的飛速發展，各種集成電路在電路中被大量使用 。

數字集成電路是指采用一定的生產工藝，將晶體管、電阻、電容等元件及其連線制作在同一塊半導體基片上，并封裝于一個管殼內所構成的單元。

隨著新工藝、新技術的不斷發展和對數字電路應用要求的不斷提高，在短短的幾十年時間，數字集成電路從小規模、中規模、大規模發展到超大規模、巨大規模，經歷了一個不斷完善的過程。

對一用戶來講，一旦選用某型號集成電路芯片后，那么其邏輯功能正確與否成為關鍵，另外有些芯片銘牌被涂改，也可以通過邏輯功能來判斷其型號。

集成電路測試系統作為一個測試門類受到很多國家的高度重視。

40年來，隨著集成電路發展到第四代，集成電路測試儀也從初測試小規模集成電路發展到測試中規模、大規模和超大規模集成電路。近十年來，數字集成電路的應用已十分廣泛，其產品滲透到生產、生活的各個領域，正在形成一場數字技術革命。