測量條件優化

c）分類：光源調制——磁場加在光源上。因應用較少，此處不作討論。 

吸收線調制——磁場加在原子化器上。可分為恒定磁場和可變磁場。  

恒定磁場調制：原子化器中譜線分裂所產生的π線的振動方向始終平行于磁場。 

可變磁場調制：原子化器所加磁場的強度可變，即零磁和激磁。但偏振器不旋轉，只固定"產生"垂直于磁場方向偏振光。 

i）零磁——原子化器中吸收線不分裂，測得A+AB；

ii）激磁——原子化器中吸收線分裂，π線振動方向垂直于偏振光振動方向，只產生背景吸 λ1 λ2 基態原子 背景  AB AT  1為共振線；2為鄰近線 收AB；

iii）凈吸光度——上述兩次測定的差，即為扣除背景后的凈吸光度A。

d）Zeeman背景校正的特點 波長范圍寬（190~900nm）；校正準確度較高，可用于強背景校正（AB可高達1.5~2.0）； 與非Zeeman效應扣背景相比，靈敏度略有下降（因為入射線分裂，使其光強下降）；儀器價格昂貴。

6.5   原子吸收分析方法  

測量條件優化

1. 分析線的選擇  通常選共振線（靈敏線或且大多為后線），但不是絕對的。如Hg185nm比Hg254nm靈敏50倍，但前者處于真空紫外區，大氣和火焰均對其產生吸收；共振線Ni232nm附近231.98和232.12nm的原子線和231.6nm的離子線，不能將其分開，可選取 341.48nm 作分析線。  

此外當待測原子濃度較高時，為避免過度稀釋和向試樣中引入雜質，可選取次靈敏線！

2. Slit 寬度選擇    調節 Slit 寬度，可改變光譜帶寬(Δλ=S×D)，也可改變照射在檢測器上的光強。